注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試，望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人委托除外)。因篇幅原因，CMA/CNAS/ISO證書以及未列出的項(xiàng)目/樣品，請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師。文章簡(jiǎn)介：電子顯微鏡X射線能譜檢測(cè)，簡(jiǎn)稱能譜分析，是一種基于掃描電子顯微鏡或透射電子顯微鏡，利用特征X射線對(duì)樣品微區(qū)進(jìn)行元素成分定性與定量分析的重要技術(shù)。該技術(shù)具有分析區(qū)域小、檢測(cè)靈敏度高、可分析元素范圍廣（通常為硼及以上元素）及能同時(shí)進(jìn)行形貌觀察與成分分析等特點(diǎn)。其核心要點(diǎn)在于通過測(cè)量特征X射線的能量與強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面或薄區(qū)微米乃至納米尺度范圍內(nèi)的元素種類鑒別與含量測(cè)定，是材料科學(xué)、地質(zhì)礦物、失效分析及半導(dǎo)體等領(lǐng)域不可或缺的微觀分析手段。 檢測(cè)項(xiàng)目 2. 微區(qū)元素定量分析：測(cè)定各元素的重量百分比與原子百分比，計(jì)算元素比值，
