注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試，望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人委托除外)。因篇幅原因，CMA/CNAS/ISO證書以及未列出的項目/樣品，請咨詢在線工程師。文章簡介：電子顯微鏡X射線能譜檢測，簡稱能譜分析，是一種基于掃描電子顯微鏡或透射電子顯微鏡，利用特征X射線對樣品微區(qū)進行元素成分定性與定量分析的重要技術(shù)。該技術(shù)具有分析區(qū)域小、檢測靈敏度高、可分析元素范圍廣（通常為硼及以上元素）及能同時進行形貌觀察與成分分析等特點。其核心要點在于通過測量特征X射線的能量與強度，實現(xiàn)對樣品表面或薄區(qū)微米乃至納米尺度范圍內(nèi)的元素種類鑒別與含量測定，是材料科學、地質(zhì)礦物、失效分析及半導體等領(lǐng)域不可或缺的微觀分析手段。 檢測項目 2. 微區(qū)元素定量分析：測定各元素的重量百分比與原子百分比，計算元素比值，
