國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,長(zhǎng)沙開元儀器有限公司取得一項(xiàng)名為“X熒光分析儀”的專利,授權(quán)公告號(hào)CN223815348U,申請(qǐng)日期為2024年12月。專利摘要顯示,本申請(qǐng)公開了一種X熒光分析儀,包括殼體、X光管、探測(cè)器、隔離膜及隔離件,殼體圍設(shè)成一測(cè)量腔,X光管、探測(cè)器分別伸入至測(cè)量腔內(nèi),殼體的底端面上設(shè)置一第一通孔以將X射線射出并照射于樣品上,隔離膜蓋設(shè)于第一通孔上以隔離測(cè)量腔與樣品;殼體的底端與樣品之間形成有氣隙,隔離件位于殼體與樣品之間且其上端面與殼體的底端面連接;隔離件上形成有第二通孔,第二通孔與第一通孔對(duì)應(yīng)設(shè)置以使X射線透過(guò)隔離膜及第二通孔照射于樣品上;隔離件內(nèi)形成有氣流通道以使氣體導(dǎo)入至第二通孔處進(jìn)行吹掃。上述X熒光分析儀避免了掃描測(cè)量組件被污染的問(wèn)題;采用吹掃氣對(duì)組件與樣品之間的氣隙