在儀器儀表自動化測試軟件開發(fā)領(lǐng)域,測試環(huán)節(jié)的精準(zhǔn)性、兼容性與靈活性直接決定產(chǎn)品迭代效率與市場競爭力。傳統(tǒng) ATE系統(tǒng)往往受限于單一產(chǎn)品適配、設(shè)備兼容量少、維護(hù)成本高的痛點(diǎn),難以滿足多品類、快迭代的測試需求。而納米軟件開發(fā)的自動化測試平臺 ATECLOUD,以無代碼搭建為核心,兼容千款設(shè)備的廣泛適配性,為電源模塊、半導(dǎo)體芯片、射頻器件等多類產(chǎn)品提供全場景自動化測試解決方案,重新定義了測試平臺的靈活與高效。零代碼開發(fā)平臺多產(chǎn)品精準(zhǔn)適配,測試場景全覆蓋ATECLOUD 平臺的核心優(yōu)勢在于其可根據(jù)不同測試對象靈活搭建專屬測試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)從電源模塊到射頻器件的全品類覆蓋。在電源模塊測試場景中,平臺通過無代碼拖拽配置,即可聯(lián)動程控示波器、可編程電源、電子負(fù)載、高精度萬用表等設(shè)備,構(gòu)建完整的電性能自動化測試